無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機熱流儀給芯片提供準確快速的溫度

無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機熱流儀適合元器件測試用設備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。