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    半導(dǎo)體芯片原材料Chiller,控流量壓力

    簡要描述:半導(dǎo)體芯片原材料Chiller,控流量壓力的典型應(yīng)用:
    適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

    • 產(chǎn)品型號:TES-4555
    • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    • 更新時間:2024-01-01
    • 訪  問  量:1113
    詳情介紹
    品牌LNEYA/無錫冠亞產(chǎn)地類別國產(chǎn)
    應(yīng)用領(lǐng)域石油,能源,電子,汽車,電氣

     元器件測試用設(shè)備

     

    適合元器件測試用設(shè)備

    在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

     

    元器件測試用設(shè)備

     

    無錫冠亞積探索和研究元件測試系統(tǒng),主要用于半導(dǎo)體測試中的溫度測試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-92℃~250℃。

     

    型號KRY-455
    KRY-455W
    KRY-475
    KRY-475W
    KRY-4A10
    KRY-4A10W
    KRY-4A15
    KRY-4A15W
    KRY-4A25
    KRY-4A25W
    KRY-4A38WKRY-4A60W
    溫度范圍-40℃~+100℃
    控溫精度±0.5℃
    溫度反饋Pt100
    溫度顯示0.01k
    流量輸出1~10L/min1~25L/min1~25L/min1~40L/min1~40L/min5~50L/min5~50L/min
    關(guān)于流量說明/當(dāng)溫度低于-30度時,大流量為25L/min當(dāng)溫度低于-30度時,大流量為30L/min
    流量控制精度±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min
    壓力顯示采用江森自控壓力傳感器,觸摸屏上顯示壓力,可進行壓力控制調(diào)節(jié) 
    加熱功率5.5kW7.5kW10kW10kW
    選配15kW
    15kW
    選配25kW
    25kW
    選配38kW
    38kW
    選配60kW
    制冷量100℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    20℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    0℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    -20℃2.8kW4.5kW6kW10kW16kW25kW35kW
    -35℃1.2kW1.8kW2.5kW4kW6.5kW10kW15kW
    壓縮機艾默生谷輪渦旋柔性壓縮機
    膨脹閥艾默生/丹佛斯熱力膨脹閥
    油分離器艾默生
    干燥過濾器艾默生/丹佛斯
    蒸發(fā)器丹佛斯/高力板式換熱器
    輸入、顯示7寸彩色觸摸屏西門子S7-1200 PLC控制器
    程序編輯可編制10條程序,每條程序可編制40段步驟
    通信CAN通信總線
    安全保護具有自我診斷功能;冷凍機過載保護;高壓壓力開關(guān),過載繼電器、熱保護裝置、低液位保護、高溫保護、傳感器故障保護等多種安全保障功能
    是否為全密閉系統(tǒng)整個系統(tǒng)為全密閉系統(tǒng),高溫時不會有油霧、低溫不吸收空氣中水份,系統(tǒng)在運行中不會因為高溫使壓力上升,低溫自動補充導(dǎo)熱介質(zhì)。
    制冷劑R404A/R507C
    接口尺寸G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4
    水冷型at25度1100L/H1500L/H2000L/H2800L/H4500L/H7000L/H12000L/H
    水冷冷凝器帕麗斯/沈氏套管式換熱器
    風(fēng)冷型冷凝器銅管鋁翅片換熱器(上出風(fēng)形式)
    電源 380V50HZ12kW max15kW max20kW max29kW max42kW max58kW max84kW max
    水冷尺寸cm55*95*17555*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185145*205*205
    風(fēng)冷尺寸cm55*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185  
    重量250kg280kg320kg360kg620kg890kg1300kg
    選配220V 60HZ三相  400V 50HZ三相  440V 60HZ三相
    選配溫度擴展到-40℃~+135℃
    選配更高精度控制溫度、流量、壓力
    選配自動加注防凍液系統(tǒng)
    選配自動液體回收系統(tǒng)

     

    半導(dǎo)體芯片原材料Chiller,控流量壓力

    半導(dǎo)體芯片原材料Chiller,控流量壓力

      集成電路設(shè)備主要包括硅片制造設(shè)備、晶圓加工處理設(shè)備、封裝設(shè)備和測試設(shè)備等,由于集成電路制造工序復(fù)雜、流程較長,不同環(huán)節(jié)所需設(shè)備各不相同,且技術(shù)難度及價值量也存在明顯差異。

      而測試設(shè)備的技術(shù)門檻相對稍低,國產(chǎn)測試設(shè)備有望在各種半導(dǎo)體設(shè)備中*突圍。從半導(dǎo)體設(shè)備分產(chǎn)品市場規(guī)模占比情況來看,半導(dǎo)體設(shè)備所占*與技術(shù)難度基本成正比,技術(shù)難度更高的產(chǎn)品享有更高市場溢價。晶圓處理設(shè)備占比比較大,原因在于在集成電路制造、封裝、測試等環(huán)節(jié)中,晶圓制造工藝較為復(fù)雜、工序較多、技術(shù)壁壘較高,設(shè)備成本也更高?!?/span>

    測試設(shè)備通常壽命較長,更新需求較少,較主要的需求是新增需求。影響測試設(shè)備新增需求的四大因素包括下游芯片需求、芯片復(fù)雜度、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)移和測試的并行度。其中較核心的影響因素是下游芯片需求和芯片復(fù)雜度。

      近年來,芯片的復(fù)雜度不斷攀升,測試設(shè)備的需求受芯片復(fù)雜度提升和下游景氣度波動雙重影響。

    元器件測試用設(shè)備

     

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