芯片高低溫老化測試箱控制器四種故障分析

　　芯片高低溫老化測試箱的所有運行進程都是有控制器輸入完成的，如果控制器出現(xiàn)故障，會造成試驗失敗，嚴重的還會出現(xiàn)設備損壞，所以就芯片高低溫老化測試箱控制器有可能出現(xiàn)的四種故障我們需要有一定的了解。

　　分析溫度控制儀表系統(tǒng)故障時，要注意兩點：該系統(tǒng)儀表多采用電動儀表測量、指示、控制；該系統(tǒng)儀表的測量往往滯后較大。

　　溫度控制儀表系統(tǒng)指示出現(xiàn)快速振蕩現(xiàn)象，多為控制參數(shù)PID調整不當造成。溫度儀表系統(tǒng)的指示值突然變到或小，一般為儀表系統(tǒng)故障。因為溫度儀表系統(tǒng)測量滯后較大，不會發(fā)生突然變化。此時的故障原因多是熱電偶、熱電阻、補償導線斷線或變送器放大器失靈造成。

　　溫度控制系統(tǒng)本身的故障分析步驟：檢查調節(jié)閥輸入信號是否變化，輸入信號不變化，調節(jié)閥動作，調節(jié)閥膜頭膜片漏了；檢查調節(jié)閥定位器輸入信號是否變化，輸入信號不變化，輸出信號變化，定位器有故障；檢查定位器輸入信號有變化，再查調節(jié)器輸出有無變化，如果調節(jié)器輸入不變化，輸出變化，此時是調節(jié)器本身的故障。

　　溫度控制儀表系統(tǒng)指示出現(xiàn)大幅緩慢的波動，很可能是由于工藝操作變化引起的，如當時工藝操作沒有變化，則很可能是儀表控制系統(tǒng)本身的故障。